產(chǎn)品分類
等離子電子/氣體密度分布測(cè)試系統(tǒng)是等離子體研究的一個(gè)重要課題,等離子作為一個(gè)非常復(fù)雜的體系,診斷手段有很多種,其中光譜學(xué)是常用的手段;而等離子體電子密度分布,也是等離子體診斷一個(gè)重要的課題
光學(xué)元件形貌測(cè)試系統(tǒng)是Phasics推出的一款多波長(zhǎng)動(dòng)態(tài)干涉儀,該產(chǎn)品應(yīng)用了Phasics的橫向四波剪切干涉技術(shù),可以實(shí)現(xiàn)動(dòng)態(tài)的波前測(cè)量,從而快速得到樣品的表面形貌信息;而且該技術(shù)的自消色差的特性,讓系統(tǒng)可以支持多個(gè)工作波長(zhǎng),有效避免傳統(tǒng)干涉儀測(cè)試波長(zhǎng)跟工作波長(zhǎng)不同帶來(lái)的誤差問(wèn)題,特別針對(duì)濾光片,可以實(shí)現(xiàn)傳統(tǒng)干涉儀無(wú)法實(shí)現(xiàn)的TWE的測(cè)試。
鏡頭MTF測(cè)試系統(tǒng)設(shè)備采用Phasics的四波剪切干涉?zhèn)鞲衅鳎?05nm~940nm多種波長(zhǎng)光源可選,而且同時(shí)最多可以配置8個(gè)波長(zhǎng)的光源。
激光損傷閾值測(cè)試系統(tǒng)不同激光器類型,損傷的機(jī)理并不一致;對(duì)于連續(xù)激光器,通常是熱積累導(dǎo)致的損傷;而對(duì)于脈沖激光器,則存在多重的損傷機(jī)制,而且不同脈寬的激光器,占主導(dǎo)的損傷機(jī)制并不相同。
Copyright © 2026 徠飛光電科技(深圳)有限公司版權(quán)所有 備案號(hào):粵ICP備2024310663號(hào)
技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng) 管理登錄 sitemap.xml